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- | symbolism = [[显微镜]] | brighteststarname = [[璃瑜增一]]（显微镜座<math>\gamma</math>） …12 KB（901个字） - 2025年2月8日 (六) 11:51
- …''是改進軸向解析度的雷射掃描[[荧光显微镜]] 。分辨率由原本的500至700纳米提高到100-15纳米，幾乎相當於降低5至7倍[[共聚焦显微镜|焦显微镜]]的球狀焦點體積。<ref>{{Cite journal|title=4Pi-Confocal Microscopy is Coming of Age 在图中显示4Pi显微镜的操作模式。 激光由一[[分光鏡]] (BS)分光並通過鏡子打在两个相反的物鏡。在共同焦点處，兩道聚焦光束會疊加。 激发的分子在这个位置发出荧光，且被兩 …2 KB（96个字） - 2023年8月8日 (二) 19:46
- | name=顯微鏡座AU}} | caption=顯微鏡座AU的岩屑盤。}} …28 KB（3,068个字） - 2024年1月7日 (日) 10:09
- …E PL HDD MAGNETIC MEMORY EVOLUTION.png|thumb|360px|3.2 GB 和 30 GB 电脑硬盘表面的磁力显微镜图像]] …並检测探针和磁性样品表面的相互作用以重构样品表面的[[磁性]]结构。現有很多种类的磁性相互作用可以通过磁力显微镜测量，包括[[磁偶相互作用]]。而磁力显微镜扫描经常使用非接触式的模式。 …9 KB（671个字） - 2025年2月17日 (一) 09:47
- [[Image:Atomic force microscope by Zureks.jpg|thumb|right|240px|一台商业化原子力显微镜装置]] [[Image:AFM beamdetection.png|thumb|350px|原子力显微镜激光束反射探测原理]] …13 KB（426个字） - 2024年10月9日 (三) 10:14
- …icroscopy'''}}，简称'''EFM'''）是一种利用测量探针与样品的静电相互作用，来表征样品表面静电势能，电荷分布以及电荷输运的[扫描探针显微镜]。 [[File:Electrostaticforcemicroscope.png|thumb|right|300px|静电力显微镜的工作原理]] …3 KB（134个字） - 2024年1月9日 (二) 10:56
- |T=zh-hans:透射电子显微镜; zh-hant:穿透式電子顯微鏡; |1=zh-hans:透射电子显微镜; zh-hant:穿透式電子顯微鏡; …41 KB（1,563个字） - 2024年12月6日 (五) 20:18
- '''扫描电化学显微镜'''（{{lang-en|'''Scanning electrochemical microscopy'''}}，缩写'''SECM'''）基于[[电 …</ref>1989年巴尔德正式建立了扫描电化学显微镜的理论原理，也创造了这个词汇。当时研究者采用的是收集模式，而巴尔德引入反馈模式，扩大了扫描电化学显微镜的应用范围。<ref name="Bard, 89', Seminal" /> …6 KB（506个字） - 2024年8月29日 (四) 11:30
- {{Otheruses|subject=电子显微镜|other=其他條目說明|STEM}} |T=zh-hans:扫描透射电子显微镜; zh-hant:掃描穿透式電子顯微鏡; …33 KB（3,008个字） - 2024年8月29日 (四) 11:31
- …shing.org/josa/abstract.cfm?uri=josa-45-7-497|dead-url=no}}</ref>，目前公認超高解析度顯微鏡技術可達到比阿貝所定義的解析度。 …ge=En|bibcode=1983Natur.302..676A|issn=0028-0836}}</ref> 、偵測器相素重配等計算處理後的共軛焦顯微鏡影像<ref>{{Cite journal|title=Re-scan confocal microscopy: scanning twice for …12 KB（1,015个字） - 2021年10月28日 (四) 03:39
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- [[Category:顯微鏡]] …728字节（14个字） - 2021年4月30日 (五) 14:17
- …''是改進軸向解析度的雷射掃描[[荧光显微镜]] 。分辨率由原本的500至700纳米提高到100-15纳米，幾乎相當於降低5至7倍[[共聚焦显微镜|焦显微镜]]的球狀焦點體積。<ref>{{Cite journal|title=4Pi-Confocal Microscopy is Coming of Age 在图中显示4Pi显微镜的操作模式。 激光由一[[分光鏡]] (BS)分光並通過鏡子打在两个相反的物鏡。在共同焦点處，兩道聚焦光束會疊加。 激发的分子在这个位置发出荧光，且被兩 …2 KB（96个字） - 2023年8月8日 (二) 19:46
- …icroscopy'''}}，简称'''EFM'''）是一种利用测量探针与样品的静电相互作用，来表征样品表面静电势能，电荷分布以及电荷输运的[扫描探针显微镜]。 [[File:Electrostaticforcemicroscope.png|thumb|right|300px|静电力显微镜的工作原理]] …3 KB（134个字） - 2024年1月9日 (二) 10:56
- 阿贝利用'''阿贝正弦条件'''这个理论结果配合[[肖特玻璃厂]]的新型玻璃为[[卡爾·蔡司]]制造出当时最高品質的显微镜. …2 KB（115个字） - 2023年1月12日 (四) 17:31
- 通常，放大與[[視覺系統|視覺]]或[[圖像]]的放大率有關，使用[[顯微鏡]]、[[印刷]]科技或[[數位資料]]，增加[[角分辨率|分辯率]]，以便能够看到更多細節。在所有情况下，圖像的放大不會改變影像的[[透視]]。 * [[顯微鏡]]：它使小物體在舒適的距離上顯示為更大的圖像以供查看。顯微鏡的佈局與望遠鏡相似，只是被觀察的物體靠近物鏡，物鏡通常比目鏡小得多。 …11 KB（436个字） - 2025年3月1日 (六) 09:13
- …量對象為較脆的材料或薄板。測量方式為使用已知負載 (常見規格為100公克) 的錐形[[钻石|金剛石]]壓入測量材料的拋光表面，持續一定時間，隨後以[[顯微鏡]]測量該金剛石於受測材料表面留下之壓痕，藉由測量該壓痕之深度並經過適當之換算，即可求得該材料之努氏硬度。<ref name=":0">{{Cite… * <math>L</math>：壓痕的兩對角線中較長段之測量長度，由顯微鏡觀察測得，單位為毫米（mm）。 …2 KB（159个字） - 2023年7月5日 (三) 06:09
- …e of a magnet" Philosophical Magazine 3:321</ref>。 它描述了从磁化表面反射后的光的变化。 它用于克尔显微镜等设备的[[材料科学]]研究，以研究材料的[[磁化強度]]结构。 [[File:NdFeB-Domains.jpg|thumb|通过与克尔显微镜的对比，几个具有磁畴的NdFeB晶粒可见。]] …5 KB（235个字） - 2022年8月7日 (日) 23:25
- …也短得多。所以想使电子发生衍射时就需要更微小的障碍物，实验上一般是采用晶体。另外，正是由于电子比光子更难发生衍射，[[电子显微镜]]的分辨率比[[光学显微镜]]的更高。<ref>[http://jpkc.henu.edu.cn/gx/SY/SYXM/DZYS.htm 实验10 电子衍射]{{dead 电子衍射是最经常用于固体物理和化学研究固体的晶体结构。实验通常是在[[透射电子显微镜]]（TEM）或[[扫描电子显微镜]]（SEM），为[[电子背散射衍射]]进行。电子衍射用来做物相鉴定、测定原子位置等。与X射线相比，电子更容易被物体吸收，所以更加精确，适合于研究微薄膜 …3 KB（64个字） - 2024年10月7日 (一) 09:53
- '''微分相位對比'''（Differential Phase Contrast, DPC）是一種基於不對稱照明的[[顯微鏡學|光學顯微技術]]，通過檢測樣品的相位梯度信息，生成高對比度的邊元增強圖像。該技術無需化學染色即可觀測透明或低對比樣品，廣泛應用於生物醫學與材料科學領 …on}}與{{link-en|Colin J. R. Sheppard|Colin J. R. Sheppard}}首次提出DPC技術，應用於掃描光學顯微鏡。<ref name="DPC_original"/> …5 KB（457个字） - 2025年2月27日 (四) 04:19
- '''扫描电化学显微镜'''（{{lang-en|'''Scanning electrochemical microscopy'''}}，缩写'''SECM'''）基于[[电 …</ref>1989年巴尔德正式建立了扫描电化学显微镜的理论原理，也创造了这个词汇。当时研究者采用的是收集模式，而巴尔德引入反馈模式，扩大了扫描电化学显微镜的应用范围。<ref name="Bard, 89', Seminal" /> …6 KB（506个字） - 2024年8月29日 (四) 11:30
- 消球差曲面多用于高倍率显微镜的物镜<ref name=Rohr>Moritz von Rohr p244</ref><ref name=k105>Rudolf Kingslake …7 KB（519个字） - 2024年3月1日 (五) 12:42
- * [[显微镜座]] …2 KB（48个字） - 2024年9月11日 (三) 03:28
- …E PL HDD MAGNETIC MEMORY EVOLUTION.png|thumb|360px|3.2 GB 和 30 GB 电脑硬盘表面的磁力显微镜图像]] …並检测探针和磁性样品表面的相互作用以重构样品表面的[[磁性]]结构。現有很多种类的磁性相互作用可以通过磁力显微镜测量，包括[[磁偶相互作用]]。而磁力显微镜扫描经常使用非接触式的模式。 …9 KB（671个字） - 2025年2月17日 (一) 09:47
- | symbolism = [[显微镜]] | brighteststarname = [[璃瑜增一]]（显微镜座<math>\gamma</math>） …12 KB（901个字） - 2025年2月8日 (六) 11:51
- …shing.org/josa/abstract.cfm?uri=josa-45-7-497|dead-url=no}}</ref>，目前公認超高解析度顯微鏡技術可達到比阿貝所定義的解析度。 …ge=En|bibcode=1983Natur.302..676A|issn=0028-0836}}</ref> 、偵測器相素重配等計算處理後的共軛焦顯微鏡影像<ref>{{Cite journal|title=Re-scan confocal microscopy: scanning twice for …12 KB（1,015个字） - 2021年10月28日 (四) 03:39
- …年）提出的[[阿贝正弦条件]]，描述了透鏡或其他光學系統要能在離開光軸的區域上產生如同在光軸上一樣清晰的影像所必須要的條件。他改革了光學儀器，例如[[顯微鏡]]的設計，並且幫助創立了[[蔡司公司|卡爾·蔡斯]]公司，不僅成為光學儀器的供應商，還主導了光學儀器的研究與發展。 另外，[[相机镜头]]、[[显微镜]]、[[光學望遠鏡]]等也会用到多组透镜。 …13 KB（556个字） - 2025年1月15日 (三) 03:18
- === 超快速显微镜 === …特征。根據[[不确定性原理|不确定性原则]] ，时间的不确定性與频率的不確定性成一反比關係，因此寬頻信号肇因於雷射光的短頻寬。 这种方法远远快于传统的显微镜的方法，因为它绕过了需要在漫长和费时的频率扫描。 …4 KB（209个字） - 2024年4月27日 (六) 09:39
- …ape factor (image analysis and microscopy)|形狀系數 (圖像分析和顯微鏡學)|形狀系數}}：應用在圖像分析和顯微鏡學 …5 KB（359个字） - 2022年3月29日 (二) 23:50
- …在一段特定的波长范围内得到有效降低。若将两个以上透镜合并使用，这种消除色散的效果可得到进一步提升，例如[[复消色散透镜]]。消色散透镜的应用在光学[[显微镜]]和[[望远镜]]的发展中是很重要的一个进步。 …12 KB（672个字） - 2023年9月7日 (四) 03:24
- 在[[地质学]]、[[矿物学]]、[[材料科学]]和半导体工程学中，结合了阴极射线发光探测器的[[扫描电子显微镜]]或[[光学显微镜]]被用于探测半导体、岩石、[[陶瓷器]]和[[玻璃]]等材料内部的结构，以获取这些材料的组成成分、生长情况和品质。 [[File:InGaN_crystal_SEM+CL.png|缩略图|图为InGaN多晶，采用[[扫描电子显微镜]]照片和彩色阴极射线发光相互复叠制作而成。图像的蓝色和绿色[[通道 (数字图像)|通道]]表现的是真实颜色，红色通道关联于紫外发射。]] …12 KB（954个字） - 2020年9月26日 (六) 16:37