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…ce Microscopy'''}}，简称'''EFM'''）是一种利用测量探针与样品的静电相互作用，来表征样品表面静电势能，电荷分布以及电荷输运的[扫描探针显微镜]。 {{扫描探针显微镜}} …

{{扫描探针显微镜}} [[Category:扫描探针显微镜]] …

{{扫描探针显微镜}} …

…显微镜'''（{{lang-en|Scanning Force Microscope}}，'''SFM'''）是一种[[纳米级]][[高分辨]]的[[扫描探针显微镜]]，优于[[光学衍射极限]]1000倍。原子力显微镜的前身是[[扫描隧道显微镜]]，是由[[IBM]][[苏黎士]]研究实验室的{{tsl|en|Ca …rch|苏黎世研究中心]]的[[格尔德·宾宁]]与[[斯坦福大学]]的Calvin Quate于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用類似扫描探针显微镜（SPM）的观测方法。原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子[[量子穿隧效應|穿隧效應]]，而是检测原子之间的接触， …

…要求的实验测量手段大致可分为两类：基于[[衍射]]的实验方法，例如[[低能电子衍射]]（LEED）或[[卢瑟福背散射]]；以及分辨率达到原子尺度的[[掃描探針顯微鏡|扫描探针技术]]，例如[[扫描隧道显微镜]]（STM）或[[原子力显微镜]]（AFM）。 …