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'''单粒子翻转'''英文缩写'''SEU'''（'''Single-Event Upsets'''），航天电子学术语，原因是在空间环境下存在着大量高能带电粒子，[[电子计算机|计算机]]中的[[CMOS]]电子元器件受到地球[[磁场]]、[[宇宙射线]]等照射，引起电位状态的跳变，“0”变成“1”，或者“1”变成“0”，但一般不会造成器件的物理性损伤。

单粒子翻转指标用单粒子翻转率来描述，单粒子翻转率是器件每天每位发生单粒子翻转的概率，计算质子单粒子翻转率的一般性公式：

<math>R_p=\int_{E_0}^{\infty} \sigma_p(E)\varphi(E)\, dE  (SEU/bit \cdot d)</math>
其中：<math>E_0</math>为阈值能量，单位MeV；<math>\sigma_p(E)</math>为质子单粒子翻转截面积，单位<math>cm^2/bit</math>；<math>\varphi(E)</math>为质子微分流量。

[[Category:電子元件]]
[[Category:太空]]
[[分类:天文学术语]]