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'''光學解析度'''<ref name="Hecht2002">{{cite book|last =Hecht |first=Eugene|title=Optics|url =https://archive.org/details/optics00hech_225 |year=2002| location=United States of America | publisher=Addison Wesley| edition= 4th| isbn=0-8053-8566-5
|page=[https://archive.org/details/optics00hech_225/page/n430 424]
|language=en}}</ref>是用來描述[[光學]]成像系統解析物體細節的能力。

最為世人所接受的解析度準則是由英國[[約翰·斯特拉特，第三代瑞利男爵|瑞利爵士]]所提出的[[角分辨率|瑞利判別準則]]（Rayleigh criterion），當兩個等強度且不相干的光狹縫亮紋互相靠近而快要重疊時，兩者的光強度疊加之後，中心處亮暗紋的光強度比最亮處的光強度小一些，減小成為約 81% （<math>\frac{8}{\pi^2}\approx 81.14\%</math>），如此，恰好可以判斷出來是來自於兩個不同的光狹縫。<ref name="Hecht2002"/>

==相關條目==
*[[角解析度]]
*[[平方米每像素]]
*[[分辨率]]
*[[1951 USAF分辨力测试图]]
*{{le|最小可分辨反差|Minimum resolvable contrast}}
*{{le|Siemens star|Siemens star}}
*{{le|Superlens|Superlens}}
*{{le|超解析度影像|Super-resolution imaging}}
==參考文獻==
{{reflist}}

{{光學小作品}}

[[Category:光學]]